奥林巴斯荧光FL显微镜&红外IR显微镜

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奥林巴斯荧光FL显微镜&红外IR显微镜

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产品描述
 

动态探针扫描模式

全景扫描

好的产品必须具备

不仅要经得住市场的考验,还要经得过消费者的认可,才能铸就经典

 
 
 
 
 
 
 

宏观观察至微观分析的无缝衔接

奥林巴斯荧光FL显微镜&红外IR显微镜

 

应用实例

 
 
 

精益求精追求完美

集众多优点于一身,只为给顾客贴心完美的视频体验,让顾客更放心更安心

 
 

       IR物镜可用于透过硅材料成像,进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外(IR)物镜,提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜,配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜,校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。

 

BX53M IR观察

 
 

人性化

贴心

售后

 
 

消费者

认可

市场

考验

经久

耐用

品质

保障

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