动态探针扫描模式

全景扫描

好的产品必须具备

不仅要经得住市场的考验，还要经得过消费者的认可，才能铸就经典

宏观观察至微观分析的无缝衔接

奥林巴斯荧光FL显微镜&红外IR显微镜

应用实例

精益求精追求完美

集众多优点于一身，只为给顾客贴心完美的视频体验，让顾客更放心更安心

       IR物镜可用于透过硅材料成像，进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外（IR）物镜，提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜，配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜，校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。

BX53M IR观察

人性化

贴心

售后

消费者

认可

市场

考验

经久

耐用

品质

保障